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银基钎料活性钎焊C/SiC-Ti55与Al2O3-Ti55接头界面组织
沈元勋1, 李正林2, 郝传勇2, 张劲松2, 龙伟民1
作者单位
沈元勋1, 李正林2, 郝传勇2, 张劲松2, 龙伟民1  
摘要:
以Ag-28Cu和Ag-9Pd-9Ga两种银基钎料钎焊C/SiC复合材料和Al2O3陶瓷与Ti55钛合金接头,考察了钎料和钎焊工艺对接头焊缝组织形貌变化影响. 结果表明,采用Ag-28Cu钎料在850~920 ℃温度区间钎焊C/SiC-Ti55和Al2O3-Ti55接头均在陶瓷基体近钎焊界面区域开裂,原因为Ti55合金中Ti元素大量溶解扩散并与铜反应生成的大量脆性Cu-Ti化合物恶化焊缝塑性. Ag-9Pd-9Ga钎料则可以获得完整接头,钎焊过程中Pd,Ga元素在Ti55侧钎焊界面富集并与Ti元素反应生成PdTi, Ti2Ga, Ti4Pd化合物的反应层,有效抑制了元素往焊缝中的溶解扩散.
关键词:  C/SiC复合材料  Al2O3陶瓷  钛合金  界面组织  扩散
DOI:10.12073/j.hjxb.20151124002
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Key words: